清水靖介 牛久保政憲 末永展行
ボード上のLSIのテストを容易化するバウンダリスキャン技術に対応したLSIの設計において，その設計TATを増大させる要因を分析し，解決方法を反映したASIC用バウンダリスキャン設計支援CADシステムを開発した。本システムでは，バウンダリスキャン設計の設計TATを増大させる要因である，LSIへのバウンダリスキャン回路の挿入とそのテスト設計工程を自動化し，さらにバウンダリスキャン回路挿入によるLSIのタイミング再設計が発生しない配置・配線を行う。本システムを適用することによって，従来3週間かかっていたバウンダリスキャン設計を2日以内で実現できるようになった。
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