馬場俊祐 大平茂晴 石井聡巳
素子の微細化に伴い，LSI設計段階で考慮すべき製造プロセスばらつきの見積もり方法が，LSIの性能，歩留まりに大きな影響を及ぼすようになっている。そこで，実際の工程で起こりうるプロセス変動を考慮した素子パラメータを抽出する手法を提案した。
提案した手法を用い，実際のプロセス変動を考慮したベスト・ワースト条件を抽出した結果，初期設計段階での遅延時間の変動幅を従来の3分の1に狭めることができた。
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